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UVV405黑光辐照计紫外紫光蓝光照度计
适用于高分子材料老化、植物栽培研究、紫外线LED强度、油墨粘合剂固化等。
探测器的光谱：360nm到460nm（峰值405nm，50%以上透过率波段382nm到428nm）。
显示： 3 3/4位液晶显示屏，MAX大读数3999。
测量范围：0-400 mW/cm2，四档位测量；400μW档，4000μW档，40mW档，400mW档（1000 μW/cm2 = 1 mW/cm2）
探测器波长范围：360nm – 460nm
探测器的频谱：峰值405nm，50%以上透过率波段382 nm到428 nm
准确度：±(8%R + 2dgt)，带外区杂光小于0.1%
*在UVV光源下进行校准，并与标准UVV辐照计进行比较
*特别测试环境下的射频场强度小于3伏/米，频率低于30兆赫
探测器结构：紫外增强型光电二极管和UVV波段过滤校正镜
取样率：2次/秒
过载显示：显示‘OL’
重量：320克(含电池)
操作温湿度：0℃ to 40℃(32℉-104℉) 0～80%Rh
电源：直流9V 6F22型电池
耗电量：直流约2.7毫安
尺寸：表身160x78x43mm ，探测器165x50x32mm
黑光辐照计紫外紫光蓝光照度计各型号产品介绍：
